應(yīng)用領(lǐng)域
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上海測宇科學(xué)儀器科技有限公司
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半導(dǎo)體計量
理學(xué)是設(shè)計和制造以X射線為基礎(chǔ)測量工具的前驅(qū)者和領(lǐng)導(dǎo)者之一。在半導(dǎo)體領(lǐng)域有將近30年的市場先導(dǎo)作用,我們的產(chǎn)品家族從工廠生產(chǎn)控制到產(chǎn)品研發(fā)用于薄膜和材料的表征。
系統(tǒng)
-
實驗室高分辨XRD: SmartLab®, Ultima IV
-
高功率 θ/θ測角儀系統(tǒng): TTRAX III
理學(xué)是設(shè)計和制造以X射線為基礎(chǔ)測量工具的前驅(qū)者和領(lǐng)導(dǎo)者之一。在半導(dǎo)體領(lǐng)域有將近30年的市場先導(dǎo)作用,我們的產(chǎn)品家族從工廠生產(chǎn)控制到產(chǎn)品研發(fā)用于薄膜和材料的表征。
系統(tǒng)
- 實驗室高分辨XRD: SmartLab®, Ultima IV
- 高功率 θ/θ測角儀系統(tǒng): TTRAX III
