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上海測宇科學(xué)儀器科技有限公司

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Rietveld 分析

  Hugo Rietveld 發(fā)明,全譜擬合結(jié)構(gòu)精修被廣泛接受,它是幾乎所有晶體材料結(jié)構(gòu)分析極具價(jià)值的方法。Rietveld分析類似于X射線熒光(XRF)的基本參數(shù)法。 這個(gè)軟件細(xì)化各種參數(shù)——包括:晶格參數(shù),峰的寬度和形狀,擇優(yōu)取向——推導(dǎo)計(jì)算衍射圖樣。一旦派生圖樣與位置樣品數(shù)據(jù)幾乎相同,可獲得樣品各種屬性包括:精確定量信息,晶體尺寸。提煉圖樣的過程是精密計(jì)算的過程,要求數(shù)分鐘內(nèi)計(jì)算出多組分混合結(jié)果。與傳統(tǒng)定量方法相比,Rietveld分析是先進(jìn)的,無需標(biāo)準(zhǔn)樣品即可得到±1%以內(nèi)的精確結(jié)果。在此之前,使用粉末衍射進(jìn)行混合材料的無標(biāo)精確定量分析是幾乎不可能的。

系統(tǒng)

  • 高功率θ/θ測角儀系統(tǒng): TTRAX III
  • 微區(qū)衍射: RAPID II
  • 臺(tái)式X射線衍射儀: MiniFlex600
  • 高性能XRD: Ultima IV
  • 多目的高分辨XRD: SmartLab?