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上海測宇科學儀器科技有限公司

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高分辨XRD

  X射線衍射及小角度和大角度X射線掃描技術(shù)是分析各種材料包括液體,金屬,礦物質(zhì),高分子材料,催化劑,塑料,陶瓷,醫(yī)藥,薄膜涂層,和半導體等高科技無損方法。這種技術(shù)成為材料判定,質(zhì)量控制不可缺少的部分。應(yīng)用包括相分析,晶體結(jié)構(gòu)和殘余應(yīng)力,納米材料等。理學提供一系列技術(shù)先進,性價比高的X射線衍射儀。

系統(tǒng)

  • 智能XRD:   SmartLab?
  • 高性能XRD: Ultima IV