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上海測宇科學儀器科技有限公司
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結構
X射線熒光光譜儀（XRF）和X射線衍射儀(XRD)兩種常用技術無損確定未知樣品組成。X射線熒光光譜儀提供從B到U的成分信息，含量范圍從ppm到百分含量。使用基本參數法，XRF提供無標定量分析。X射線衍射提供相結構識別和區(qū)分樣品中主要，次要，和微量元素的化合物。XRD分析包括礦物名稱，化學式，晶體系統(tǒng)，并參考ICDD數據庫。XRD使用Rietveld分析也可簡單獲得定量信息。
系統(tǒng)
-
臺式XRD: MiniFlex600
-
智能XRD: SmartLab?
-
高性能XRD: Ultima IV
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微區(qū)衍射: RAPID II
-
低成本 XRF: Primini , Supermini
-
高性能 XRF: Primus, Primus II, Primus Ⅲ+
-
高通量 XRF: Simultix 14
X射線熒光光譜儀（XRF）和X射線衍射儀(XRD)兩種常用技術無損確定未知樣品組成。X射線熒光光譜儀提供從B到U的成分信息，含量范圍從ppm到百分含量。使用基本參數法，XRF提供無標定量分析。X射線衍射提供相結構識別和區(qū)分樣品中主要，次要，和微量元素的化合物。XRD分析包括礦物名稱，化學式，晶體系統(tǒng)，并參考ICDD數據庫。XRD使用Rietveld分析也可簡單獲得定量信息。
系統(tǒng)
- 臺式XRD: MiniFlex600
- 智能XRD: SmartLab?
- 高性能XRD: Ultima IV
- 微區(qū)衍射: RAPID II
- 低成本 XRF: Primini , Supermini
- 高性能 XRF: Primus, Primus II, Primus Ⅲ+
- 高通量 XRF: Simultix 14
